Анализаторы автоматические OBLF мод. GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS

Описание

Анализаторы автоматические OBLF мод. GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS — техническое средство с номером в госреестре 47577-11 и сроком свидетельства (заводским номером) 22.07.2026. Имеет обозначение типа СИ: OBLF мод. GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS.
Произведен предприятием: Фирма "OBLF Gesellschaft fur Elektronik und Feinwerktechnik mbH", Германия.

Требуется ли периодическая поверка прибора?

Наличие периодической поверки: Да. Периодичность проведения поверки установлена изготовителем средства измерения и составляет: 1 год
Узнать о ее сроках можно также в техническом паспорте, который прилагается к данному прибору.

Допускается ли поверка партии?

Допущение поверки партии приборов: Нет.

Методика поверки:

Анализаторы автоматические OBLF мод. GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS.

С методикой поверки прибора вы можете ознакомиться по ссылке: Скачать
Документ содержит последовательность действий, реализация которых позволит подтвердить соответствие прибора метрологическим требованиям, принятым при утверждении типа средства измерений.

Описание типа:

Анализаторы автоматические OBLF мод. GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS.

С более детальным описанием прибора можно ознакомиться по ссылке: Описание прибора: Скачать. Документ содержит технические, метрологические характеристики, данные о погрешности измерения и другую полезную информацию.

Изображение
Номер в госреестре
НаименованиеАнализаторы автоматические
Обозначение типаOBLF мод. GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS
ПроизводительФирма "OBLF Gesellschaft fur Elektronik und Feinwerktechnik mbH", Германия
Описание типаСкачать
Методика поверкиСкачать
Межповерочный интервал (МПИ)1 год
Допускается поверка партииНет
Наличие периодической поверкиДа
Сведения о типеСрок свидетельства
Срок свидетельства или заводской номер22.07.2026
НазначениеАнализаторы автоматические OBLF модели GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS предназначены для измерения концентрации химических элементов в металлах и сплавах.
ОписаниеПринцип действия анализаторов автоматических OBLF моделей GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS основан на методе эмиссионного автоматического спектрального анализа с возбуждением пробы с помощью искры. Анализаторы состоят из источника возбуждения спектра, полихроматора и автоматизированной системы управления и регистрации на базе IBM – совместимого компьютера. Искровой источник возбуждения спектра создает униполярную искру с формой волны, задаваемой программой. Обдувка электрода аргоном повышает точность и воспроизводимость результатов измерений. Автоматическая система анализаторов OBLF моделей GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS базируется на полихроматоре по схеме Пашена – Рунге с вогнутой дифракционной решеткой, работающей в первом или во втором порядке дифракции. Ширина выходных щелей от 10 мкм до 75 мкм. Может быть установлено до 64 выходных щелей. Регистрация спектра осуществляется с помощью набора фотоумножителей, оптимизированных на определенные участки спектра. Система имеет вогнутую дифракционную решетку, у которой кривизна и количество штрихов оптимизируется в соответствии с аналитической задачей. Входная щель автоматической системы управляется шаговым двигателем по программе. В моделях GS 1000-II, QSN 750-II, QSG 750-II римская цифра указывает на увеличение скорости обработки данных за счет изменения электрической схемы интегратора в вакуумной камере. Автоматическая система анализаторов VeOS базируется на полихроматоре по схеме Пашена – Рунге с вогнутой дифракционной решеткой, на которую световой поток со штатива передается на полупроводниковые сенсоры, с особой формой секторов. Совокупность пикселей в матрице размером 10 мкм х 1000мкм со специальной антибликовой обработкой увеличивает светочувствительность сенсоров. Термостабилизация автоматической камеры уменьшает уровень фона. Конструктивно анализаторы OBLF моделей GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS выполнены в виде напольного прибора с встроенным компьютером. Управление процессом измерения и обработки выходной информации осуществляется от IBM – совместимого компьютера ( модель не ниже PENTIUM0 ) с помощью специального программного комплекса. По программе осуществляется настройка прибора, построение градуировочных зависимостей на основе анализа стандартных образцов, оптимизация его параметров, управление его работой, обработка выходной информации, запоминание и печать результатов измерения. Во всех частях программы, в которых требуется какой-то ввод, в память заложено необходимое установочное значение, принимаемое программой по умолчанию и соответствующее стандартным методикам. Поэтому, в большинстве случаев для проведения измерения достаточно в методе измерения задать лишь необходимые для определения элементы. Анализаторы оснащены самоочищающимся искровым столиком и встроенной системой внутренней стабилизации, что обеспечивает высокую стабильность результатов независимо от места установки анализатора. Измерение, обработка, хранение и представление информации, а так же настройка и оптимизация анализатора осуществляется с помощью программного обеспечения с персонального компьютера. Анализатор автоматический OBLF модель QSN750, QSG750, QSN750-II, QSG750-II Анализатор автоматический OBLF модель GS1000, GS1000-II Анализатор автоматический OBLF модельVeOS
Программное обеспечениеПрограммное обеспечение внешнее и идентифицируется при включении анализатора путем вывода на экран номера версии. Идентификационные данные программного обеспечения приведены в таблице 1. Таблица 1
Наименование программного обеспеченияИдентификационное наименование программного обеспеченияНомер версии (идентификационный номер) программного обеспеченияЦифровой идентификатор программного обеспечения (контрольная сумма исполняемого кода)Алгоритм вычисления цифрового идентификатора программного обеспечения
OBLF-Win -1.4.12w12 (SQL)--
Уровень защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений по МИ 3286-2010 «С» - метрологически значимая часть ПО СИ и измеренные данные достаточно защищены с помощью специальных средств защиты. Конструктивно анализаторы имеют защиту встроенного программного обеспечения от преднамеренных или непреднамеренных изменений, реализованную изготовителем на этапе производства путем установки системы защиты микроконтроллера от чтения и записи. Пломбировка приборов конструкцией анализаторов не предусмотрена.
Метрологические и технические характеристики
Метод измеренияэмиссионный спектральный анализ
Способ регистрациипараллельный
VeOSGS 1000;QSN 750; QSG 750;
Рабочий диапазон, нм 130 …780120 ... 800120 ... 800
Габаритные размеры: мм(1156х760х1240)(1100х600х1250) 1040х900х1280)
Масса: кг350330550
Потребляемая мощность1,5 кВ·А1,5 кВ·А1,5 кВ·А
Напряжение питания( 220 ( 10 ) В; ( 50 /60 ) Гц
Подача аргона: давление расход
Диапазон температур окружающей среды, оС( 12 ... 35 )( 10 ... 35 )( 12 ... 35 )
Диапазон относительной влажности, %20 - 80
Диапазон атмосферного давления, кПа84 - 106,7
Уровень шума, не более< 56 дБ
Определяемый элемент в сталях ГОСТ 18895-97Диапазон измерения, % масс. долиПределы допускаемой абсолютной погрешности измерения, % масс. доли
Марганец0,050 ... 2,0( (0,008 ... 0,08 )
Медь0,010 ... 1,00( (0,004 ... 0,06 )
Молибден0,010 ... 5,0( (0,004 ... 0,12 )
Углерод0,020 ... 2,0( (0,008 ... 0,06 )
Кремний0,050 ... 2,5( (0,012 ... 0,08 )
Никель0,010 ... 10,0( (0,004 ... 0,16 )
Хром0,010 ... 30,0( (0,003 ... 0,25 )
В зависимости от того для какой матрицы предназначен анализатор погрешность определяется по МВИ.
КомплектностьИзмерительный прибор. 1 экз. Комплект эксплуатационных документов. 1 экз. 3. Методика поверки. МП РТ 620-2011 1 экз.
Поверка осуществляется по методике поверки МП РТ 620 – 2011, утвержденной ГЦИ СИ ФГУ «Ростест – Москва» « 12 » мая 2011г. Средства поверки: Стандартные образцы состава стали ( ГСО 4165 – 91 П; 2489 – 91 П ... 2497 – 91 П ) или другие ГСО в зависимости от того для какой матрицы (железо, алюминий, медь, титан и др.) предназначен анализатор.
Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к анализаторам OBLF моделей GS 1000, GS 1000-II, QSN 750, QSN 750-II, QSG 750, QSG 750-II, VeOS 1. МИ 2639-01 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений массовой доли компонентов в веществах и материалах 2. ГОСТ 18895–97 Сталь. Метод фотоэлектрического спектрального анализа. 3.Техническая документация фирмы OBLF Gesellschaft fur Elektronik und Feinwerktechnik mbH. Рекомендации по областям применения в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений - при осуществлении деятельности в области охраны окружающей среды осуществлении деятельности по обеспечению безопасности при чрезвычайных ситуациях; - при выполнении работ по обеспечению безопасных условий и охраны труда; - при осуществлении производственного контроля за соблюдением установленных законодательством Российской Федерации требований промышленной безопасности к эксплуатации опасного производственного объекта; - при осуществлении деятельности в области обороны и безопасности государства; - при осуществлении геодезической и картографической деятельности; - при выполнении работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции других видов, а также иных объектов установленным законодательством Российской Федерации обязательным требованиям.
ЗаявительФирма " OBLF Gesellschaft fur Elektronik und Feinwerktechnik mbH ", Германия Salinger Feld 44, 58454 Witten , e-mail: info@oblf.de.
Испытательный центрный центр ГЦИ СИ Федерального государственного учреждения «Российский центр испытаний и сертификации – Москва» (ФГУ «Ростест-Москва»), 117418, Москва, Нахимовский пр., 31, тел.: 129-19-11 факс: 124-99-96 email: info@rostest.ru, аттестат аккредитации № 30010-10, действительный до «01» апреля 2015 г.