Микрозонды-микроскопы рентгеновские аналитические РАМ-30μ

Описание

Микрозонды-микроскопы рентгеновские аналитические РАМ-30μ — техническое средство с номером в госреестре 52096-12 и сроком свидетельства (заводским номером) 14.12.2017. Имеет обозначение типа СИ: РАМ-30μ.
Произведен предприятием: ЗАО "Научные приборы", г.С.-Петербург.

Требуется ли периодическая поверка прибора?

Наличие периодической поверки: Да. Периодичность проведения поверки установлена изготовителем средства измерения и составляет: 1 год
Узнать о ее сроках можно также в техническом паспорте, который прилагается к данному прибору.

Допускается ли поверка партии?

Допущение поверки партии приборов: Нет.

Методика поверки:

Микрозонды-микроскопы рентгеновские аналитические РАМ-30μ.

С методикой поверки прибора вы можете ознакомиться по ссылке: Файл не найден, для получения обратитесь в архив ФГБУ «ВНИИМС»
Документ содержит последовательность действий, реализация которых позволит подтвердить соответствие прибора метрологическим требованиям, принятым при утверждении типа средства измерений.

Описание типа:

Микрозонды-микроскопы рентгеновские аналитические РАМ-30μ.

С более детальным описанием прибора можно ознакомиться по ссылке: Описание прибора: Скачать. Документ содержит технические, метрологические характеристики, данные о погрешности измерения и другую полезную информацию.

Изображение
Добавить к заказу
Номер в госреестре
52096-12
НаименованиеМикрозонды-микроскопы рентгеновские аналитические
Обозначение типаРАМ-30μ
ПроизводительЗАО "Научные приборы", г.С.-Петербург
Описание типаСкачать
Методика поверкиФайл не найден, для получения обратитесь в архив ФГБУ «ВНИИМС»
Межповерочный интервал (МПИ)1 год
Допускается поверка партииНет
Наличие периодической поверкиДа
Сведения о типеСрок свидетельства
Срок свидетельства или заводской номер14.12.2017
НазначениеМикрозонды-микроскопы рентгеновские аналитические РАМ-30µ предназначены для измерения содержания элементов в точках фокусирования рентгеновских лучей на поверхности исследуемого образца.
ОписаниеПринцип действия микрозондов-микроскопов рентгеновских аналитических основан на регистрации интенсивности вторичного рентгеновского излучения образца, возбуждаемого излучением рентгеновской трубки. На изучаемый образец направляется рентгеновское излучение, сфокусированное в пятно (зонд) диаметром от 50 мкм до 1 мм. Спектр рентгеновской флуоресценции регистрируется энергодисперсионным детектором. Отдельный канал измеряет интенсивность рентгеновского излучения проходящего через образец. Сканирование поверхности исследуемого образца производится путем перемещения в горизонтальной плоскости объекта, укрепленного на предметном столе, измерительная система, при этом, остается неподвижной. Горизонтальное перемещение предметного стола возможно по двум осям в пределах ±75 мм, измерительная система может перемещаться вертикально в пределах 50 мм. Прибор оборудован цифровыми видеокамерой и двумя микроскопами. Цифровая камера и микроскопы используются только для выделения зоны измерения в изучаемом образце в процессе его установки. Камера позволяет вывести на экран компьютера изображение с площади 30×30 мм. Для более точного выбора интересующей области, в процессе предварительных исследований, используется цифровой микроскоп, еще один микроскоп позволяет определить положение зонда в процессе юстировки. В качестве источника рентгеновского излучения используется микрофокусная рентгеновская трубка, материал анода – молибден. Внешний вид микрозондов-микроскопов рентгеновских аналитических РАМ-30µ приведен на рисунке 1. Рис.1. Микрозонд-микроскоп рентгеновский аналитический РАМ-30µ
Программное обеспечение Микрозонды-микроскопы рентгеновские аналитические оснащены автономным ПО «X-RAY MICRO», которое управляет работой приборов и отражает, обрабатывает и хранит полученные данные.
Наименование программного обеспеченияИдентификационное наименование программного обеспеченияНомер версии (идентификационный номер) программного обеспеченияЦифровой идентификатор программного обеспечения (контрольная сумма метрологической значимой части ПО для версии 1.0.0.0)Алгоритм вычисления цифрового идентификатора программного обеспечения
X-RAY MICROmicro_proc_dt.dll1.0.0.0 или выше40277423685bb0edb3230a0d834992cfMD5
К метрологически значимой части ПО относится компонент micro_proc_dt.dll, который выполняет следующие функции: управление прибором, считывание, хранение, обработка результатов измерений, редактирование и хранение базы методов измерения и стандартных образцов, определение и хранение калибровочных коэффициентов энергетической шкалы. Уровень защиты ПО от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует категории С по МИ 3286-2010. Влияние ПО на метрологические характеристики учтено при нормировании последних.
Метрологические и технические характеристики
Диапазон определяемых элементовОт Na (K-серия) до U (L-серия)
Энергетическое разрешение энергодисперсионного детектора на линии Cu Kα, не более175
Контрастность аналитического канала*, не менее: •на линии Si Кα (при вакуумированной измерительной камере); измеряется, если в комплект входит вакуумная станция •на линии Cu Кα •на линии Zn Кα 0,5 3,0 3,0
Контрастность рентгенографического канала** 2,0
Относительное СКО выходного сигнала аналитического канала***, %, не более: 1,0
Число уровней дискретизации, каналов4095
Тип рентгеновской трубки (РТ)микрофокусная
Максимальная мощность рентгеновской трубки, В(А:500
Напряжение питания переменного тока частотой (50±1 Гц), В220+22-33
Потребляемая мощность, включая вакуумный пост (без компьютера и принтера), кВ×А, не более1,5
Средний срок службы, лет5
Наработка на отказ, ч, не менее2000
Габаритные размеры основного блока (Д×Ш×В), мм, не более700х620х660
Масса основного блока, кг, не более70
Размеры вакуумного поста (Д×Ш×В), мм, не более:500х250х250
Масса вакуумного поста, кг, не более30
Условия эксплуатации:
- диапазон температуры окружающего воздуха, оС от +10 до +35
- диапазон относительной влажности окружающего воздуха, % при t=25 оС не более 80
- диапазон атмосферного давления, кПаот 84 до 106
* Отношение интенсивности в максимуме линии и нормированному на концентрацию элемента, к фону измеренному на участке спектра рядом с аналитической линией. В качестве контрольного образца используется ГСО 7247-96 индекс 2152. Возможно использование стандартного образца (ГСО) с близкими содержаниями компонентов SI, Cu, Zn. ** Контрастность определяется как отношение интенсивностей, измеренных на щупах щелемера толщиной (0,05/0,1) мм. *** По линии Cu Кα при использовании в качестве контрольного образца ГСО 7247-96 индекс 2152.
Комплектность
№№НаименованиеОбозначениеКол-во (шт.)Примечание
1Базовый блок (микрозонд-микроскоп)РМ.01.40.000.СБ1
2Вакуумный постРФК.01.85.000.СБ1Опция, заимствовано от РФК. 01.00.000.
3Рабочее место оператора, включающее компьютерный стол и кресло1Опция
4Пакет программ1Компакт-диск
5Персональный компьютер1Комплект
6Принтер1
7Калибровочный образец1Калибровочный СЦ-1
8Комплект ЗИП1
9Комплект монтажных частей1По согласованию с Заказчиком
10Методика поверкиМП-242-1411-20121
11Руководство по эксплуатации1
12Паспорт 1
Поверка осуществляется по документу «МП-242-1411-2012. Микрозонды-микроскопы рентгеновские аналитические РАМ-30µ. Методика поверки», утвержденному ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМ им. Д.И.Менделеева» 25.07.2012 г. Основные средства поверки: стандартный образец состава сплавов медно-цинковых ГСО 7247-96, индекс СО 2152 или аналогичный по составу и содержанию Cu, Zn и Si; комплект щупов №1, класс 2.
Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к микрозондам-микроскопам рентгеновским аналитическим РАМ-30µ Технические условия ТУ 4276-010-01360812-2011. Рекомендации по областям применения в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений При осуществлении деятельности в области охраны окружающей среды и оценке соответствия промышленной продукции и продукции других видов, а также иных объектов установленным законодательством Российской Федерации обязательным требованиям.
Заявитель ЗАО «Научные приборы» Адрес: 190103, Россия, г. Санкт-Петербург, Рижский пр., дом 26. Тел.: (812) 251-28-50 Факс: (812) 251-73-63, эл.почта: sales@sinstr.com
Испытательный центрный центр ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМ им. Д.И.Менделеева», рег.№ 30001-10. Адрес:190005, Санкт-Петербург, Московский пр., 19. Тел.: (812) 251-76-01. Факс: (812) 713-01-14, эл.почта: info@vniim.ru