Описание
Спектрометры комбинационного рассеяния DXRxi Raman Imaging Microscope — техническое средство с номером в госреестре 62126-15 и сроком свидетельства (заводским номером) 30.10.2021. Имеет обозначение типа СИ: DXRxi Raman Imaging Microscope. Произведен предприятием: Корпорация "Thermo Fisher Scientific", США.
Требуется ли периодическая поверка прибора?
Наличие периодической поверки: Да. Периодичность проведения поверки установлена изготовителем средства измерения и составляет: 1 год Узнать о ее сроках можно также в техническом паспорте, который прилагается к данному прибору.
Допускается ли поверка партии?
Допущение поверки партии приборов: Нет.
Методика поверки:
Спектрометры комбинационного рассеяния DXRxi Raman Imaging Microscope.С методикой поверки прибора вы можете ознакомиться по ссылке: Скачать Документ содержит последовательность действий, реализация которых позволит подтвердить соответствие прибора метрологическим требованиям, принятым при утверждении типа средства измерений.
Описание типа:
Спектрометры комбинационного рассеяния DXRxi Raman Imaging Microscope.С более детальным описанием прибора можно ознакомиться по ссылке: Описание прибора: Скачать. Документ содержит технические, метрологические характеристики, данные о погрешности измерения и другую полезную информацию.
Изображение | Номер в госреестре | 62126-15 Наименование | Спектрометры комбинационного рассеяния | Обозначение типа | DXRxi Raman Imaging Microscope | Производитель | Корпорация "Thermo Fisher Scientific", США | Описание типа | Скачать | Методика поверки | Скачать | Межповерочный интервал (МПИ) | 1 год | Допускается поверка партии | Нет | Наличие периодической поверки | Да | Сведения о типе | Срок свидетельства | Срок свидетельства или заводской номер | 30.10.2021 | Назначение | Спектрометр комбинационного рассеяния DXRxi Raman Imaging Microscope предназначен для измерения содержания различных органических и неорганических веществ в твердых и жидких образцах, продуктах питания, почвах и т.д. по спектрам комбинационного рассеяния в соответствии с аттестованными и стандартизованными методами (методиками).
| Описание | Принцип действия прибора основан на том, что при освещении образца монохроматическим излучением в спектре рассеянного излучения появляются частоты, смещенные относительно возбуждающей линии. Этот дополнительный спектр соответствует колебательно-вращательным переходам в молекулах исследуемого вещества и называются спектром комбинационного рассеяния (КР) или Рамановским спектром.
Путем последовательной регистрации спектра в различных точках пробы при перемещении автоматического предметного столика возможна визуализация пробы по спектрам КР (построение спектральной карты пробы). Конфокальный режим работы позволяет программному обеспечению спектрометра строить спектральную карту распределения компонентов исследуемой пробы по ее глубине.
Конструктивно прибор состоит из источника излучения, осветителя, фильтра для ослабления рэлеевского рассеяния, монохроматора с дифракционной решеткой (спектрограф Triplet), детектора сигнала (термоэлектрически охлаждаемой матрицы EMCCD) и электронного блока, объединенных в едином корпусе. При смене источника излучения меняются также решетка и фильтр, причем все элементы автоматически распознаются электронным блоком и программно проверяются на взаимную совместимость (концепция Smart-компонентов). В процессе эксплуатации осуществляется непрерывный автоматический контроль мощности лазера с целью стабилизации мощности возбуждения на пробе. Кюветное отделение прибора снабжено датчиками открывания для автоматической блокировки лазерного луча (класс безопасности I). Для достижения оптимальных результатов применена система автоматической оптимизации параметров спектрометра.
По заказам прибор оснащается широким набором дополнительных устройств и принадлежностей, таких как разнообразные приставки для измерения микро- и макро-проб, приставками для исследования полупроводниковых изделий и т.д. Возможна комплектация прибора источниками монохроматического излучения (лазерами) высокой яркости или высокой мощности, с различными длинами волн, перечисленными ниже в перечне метрологических и технических характеристик. Для каждого лазера возможна комплектация решетками, обеспечивающими различные спектральное разрешение и спектральный диапазон.
Для анализа массивных и/или удаленных объектов прибор может снабжаться устройством сопряжения с волоконно-оптическим датчиком.
Спектрометр снабжается микроосветителем для исследования образцов размером от 1 мкм, с автоматизированным или ручным предметным столиком. По специальному заказу спектрометры дополнительно комплектуются библиотеками спектров широкого класса веществ, что позволяет проводить идентификацию исследуемых образцов.
Внешний вид спектрометра приведен на рис.1.
Рисунок 1 - Внешний вид спектрометра DXRxi Raman Imaging Microscope
| Программное обеспечение | Спектрометры оснащены автономным ПО для управляющего компьютера, которое управляет его работой и отображает, обрабатывает и хранит полученные данные. Идентификационные данные ПО приведены в таблице 1.
Таблица 1
|
Метрологические и технические характеристики | Метрологические и технические характеристики приведены в таблице 2.
Таблица 2
|
Комплектность | Комплект поставки определяется заказом и отражается в спецификации.
Основной комплект включает:
спектрометр;
руководство по эксплуатации;
методику поверки МП-242-1918-2015. | Поверка | Нормативные и технические документы | , устанавливающие требования к спектрометрам комбинационного рассеяния DXRxi Raman Imaging Microscope
Техническая документация корпорации «Thermo Fisher Scientific», США.
| Заявитель |
Корпорация «Thermo Fisher Scientific», США
Адрес: 5225 Verona Road, Madison, WI 53711-4495 U.S.A
Тел.: (608) 276-6100. Факс: (608) 273-5046
| Испытательный центр | ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева»
Адрес: 190005, Санкт-Петербург, Московский пр., 19, тел. (812) 251-76-01
Факс: (812) 713-01-14, эл. почта info@vniim.ru
Аттестат аккредитации ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМ им. Д.И. Менделеева» по проведению испытаний средств измерений в целях утверждения типа № 30001-10 от 20.12.2010 г.
| |