Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900

Описание

Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900 — техническое средство с номером в госреестре 77351-20 и сроком свидетельства (заводским номером) 03.02.2025. Имеет обозначение типа СИ: Waveline W800 и Waveline W900.
Произведен предприятием: Фирма "Jenoptik Industrial Metrology Germany GmbH", Германия.

Требуется ли периодическая поверка прибора?

Наличие периодической поверки: Да. Периодичность проведения поверки установлена изготовителем средства измерения и составляет: 2 года
Узнать о ее сроках можно также в техническом паспорте, который прилагается к данному прибору.

Допускается ли поверка партии?

Допущение поверки партии приборов: Нет.

Методика поверки:

Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900.

С методикой поверки прибора вы можете ознакомиться по ссылке: Скачать
Документ содержит последовательность действий, реализация которых позволит подтвердить соответствие прибора метрологическим требованиям, принятым при утверждении типа средства измерений.

Описание типа:

Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900.

С более детальным описанием прибора можно ознакомиться по ссылке: Описание прибора: Скачать. Документ содержит технические, метрологические характеристики, данные о погрешности измерения и другую полезную информацию.

Изображение
Номер в госреестре
НаименованиеПриборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Обозначение типаWaveline W800 и Waveline W900
ПроизводительФирма "Jenoptik Industrial Metrology Germany GmbH", Германия
Описание типаСкачать
Методика поверкиСкачать
Межповерочный интервал (МПИ)2 года
Допускается поверка партииНет
Наличие периодической поверкиДа
Сведения о типеСрок свидетельства
Срок свидетельства или заводской номер03.02.2025
НазначениеПриборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900 (далее по тексту – приборы) предназначены для измерений профилей различных деталей и (или) параметров шероховатости, а также для определения в измеренных профилях геометрических параметров: расстояний между точками и радиусов дуг.
ОписаниеДействие приборов основано на принципе ощупывания неровностей исследуемой поверхности щуповой консолью с алмазным, твердосплавным или рубиновым наконечником и преобразования возникающих при этом механических колебаний щупа в изменения напряжения, пропорциональные этим колебаниям, которые усиливаются и преобразуются в микропроцессоре. Результаты измерений выводятся на монитор системы управления и оценки (в виде профилей, числовых значений параметров шероховатости и геометрических параметров профилей). Модификация приборов нанесена на колонну (рис. 1) и обозначается следующим образом: Waveline WX00A где X – серия прибора: 8 или 9; 00 – исполнение блока привода: 12 или 20, для 120 мм или 200 мм, соответственно; A – исполнение прибора: R – измерение шероховатости, C – измерение контура, RC – измерение шероховатости и контура. Модификации приборов различаются визуально, а также метрологическими и техническими характеристиками. Рисунок 1 – Пример обозначения модификации Приборы состоят из следующих элементов: Гранитной плиты, устанавливаемой на элементах демпфирования. На гранитной плите расположена моторизованная вертикальная колонна (ZM500 или ZM800), а также может размещаться опциональный ручной или моторизованный измерительный стол для установки и позиционирования на нем исследуемых объектов. На вертикальной колонне закреплен привод горизонтального перемещения (XM120 или XM200), на который устанавливается датчик и щуповая консоль для проведения измерений геометрических параметров контура и шероховатости поверхности. В зависимости от поставленных задач, приборы могут поставляться вместе с опциональным инструментальным столом с активной или пассивной системой подавления вибраций, а также кабиной, защищающей рабочее пространство прибора от воздействия окружающей среды. Система управления и оценки подключается к датчику, приводам и элементам управления. Управление всеми перемещениями осуществляется при помощи меню на экране монитора с мышки или джойстика. Общий вид приборов представлен на рисунках 2-3. Приборы в зависимости от заказа оснащаются датчиками следующих модификаций: TKU400 для измерений шероховатости (рис. 4), Digiscan для измерений контура (рис. 5), Surfscan для измерений шероховатости и контура (рис. 6), Nanoscan для измерений шероховатости и контура (рис. 7). Пломбировка приборов от несанкционированного доступа не предусмотрена. Рисунок 2 – Общий вид приборов для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и место нанесения знака поверки Рисунок 3 – Общий вид приборов для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W900 и место нанесения знака поверки Рисунок 4 – Общий вид датчиков для измерений параметров шероховатости поверхности TKU400 Рисунок 5 – Общий вид датчиков для измерений параметров контура Digiscan Рисунок 6 – Общий вид датчиков для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Surfscan Рисунок 7 – Общий вид датчиков для измерений параметров шероховатости и контура поверхности Nanoscan
Программное обеспечениеПриборы имеют в своем составе программное обеспечение (ПО) Evovis, разработанное для конкретной измерительной задачи, осуществляющее измерительные функции, функции расчета параметров и функции индикации. Таблица 1 – Идентификационные данные программного обеспечения
Идентификационные данные (признаки)Значение
Идентификационное наименование ПОEvovis
Номер версии (идентификационный номер) ПО, не ниже2.7
Цифровой идентификатор ПО
Программное обеспечение и его окружение являются неизменными, средства для программирования или изменения метрологически значимых функций отсутствуют. Уровень защиты программного обеспечения приборов «высокий» в соответствии с Р 50.2.077-2014.
Метрологические и технические характеристикиТаблица 2 – Метрологические характеристики приборов Waveline W800
Наименование характеристикиЗначение
Модификация датчикаDigiscanTKU400SurfscanNanoscan
Измеряемые параметрыКонтурШероховатостьКонтур и шероховатостьКонтур и шероховатость
Диапазон линейных измерений по оси Z, ммот 0 до 601) от 0 до 902)±4001) ±8002)от 0 до 81) от 0 до 162)от 0 до 241) от 0 до 482)
Разрешение по оси Z, нм101) 152)11) 22)31) 62)0,31) 0,62)
Диапазон линейных измерений по оси X4), ммот 0,1 до 120 от 0,1 до 200
Разрешение по оси X, мкм0,1
Предел допускаемого отклонения от прямолинейности перемещения по оси X6), мкм0,4 (на 120 мм) 0,6 (на 200 мм)
Измерительное усилие, мНот 5 до 500,75от 0,75 до 30от 0,75 до 30
При измерении контура поверхности
Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси Z3) 6), мкм±(1,2 + Z/50) где Z – измеряемая длина, мм±(1,0 + Z/50) где Z – измеряемая длина, мм
Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси X3) 6), мкм±(1,0 + X/100) где X – измеряемая длина, мм±(1,0 + X/100) где X – измеряемая длина, мм
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений радиусов3) 5) 6), мкм±3,0±3,0±1,5
При измерении шероховатости поверхности3)
Диапазон измерений шероховатости по параметру Ra, мкмот 0,01 до 260
Пределы допускаемой относительной погрешности измерений шероховатости по параметрам Ra6), %±3
Радиус закругления щупа, мкм2
1) – при использованнии стандартной консоли; 2) – при использовании консоли двойной длины; 3) – при использовании стандартного щупа; 4) – в зависимости от блока привода; 5) – для радиусов от 12 до 15 мм; 6) – при температуре окружающего воздуха от плюс 19 до плюс 21 °C и относительной влажности воздуха (без конденсата) не более 50 %
Таблица 3 – Технические характеристики приборов Waveline W800
Наименование характеристикиЗначение
Модификация датчикаDigiscanTKU400SurfscanNanoscan
Диапазон позиционирования по оси Z, ммот 0 до 5004) от 0 до 8005)
Максимальная скорость позиционирования по оси X, мм/с20
Точность позиционирования по оси X, мкм10
Максимальная скорость позиционирования по оси Z, мм/с20
Точность позиционирования по оси Z, мкм50
Параметры шероховатостиRt, Ra, Rz, Rp, Rv, Rq, RSm, Rc, Rsk, Rku, RΔq, Rmr, C(Rmr), Rmr(c), Rdc, Pt, Pa, Pz, Pp, Pv, Pq, PSm, Pc, Psk, Pku, PΔq, Pmr, C(Pmr), Pmr(c), Pdc, Wt, Wa, Wz, Wp, Wv, Wq, WSm, Wc, Wsk, Wku, WΔq, Wmr, (Wmr),Wmr(c), Wdc, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Vo, Rpk*, Rvk*, A1, A2, R, Rx, AR, Nr, W, Wx, AW, Wte, Nw, Rz-JIS, Ra, RPc, Wsa, Wca, Rmax, RzISO, D, Δa, Δq, L0, R3z, Rp3z, R3zm, WDSm, WDt, WDc, DG, Dt, DP, DF, DFu, DLu, Dγ
Параметры электрического питания (от внешней сети): напряжение переменного тока, В частота переменного тока, Гцот 100 до 120 / от 220 до 240 50/60
Потребляемая мощность, В∙А, не более1500
Габаритные размеры, мм, не более: длина ширина высота7001), 10002), 14603) 5201) 2), 8103) 11244), 14245), 17706), 20707)
Масса, кг, не более1601), 2302), 4803)
Условия эксплуатации: диапазон рабочих температур, °С относительная влажность воздуха (без конденсата), %от +15 до +30 80от +10 до +40 80от +18 до +25 80
1) – прибор в настольном исполнении с гранитной плитой (700x520x100 мм); 2) – прибор в настольном исполнении с гранитной плитой (1000x520x110 мм); 3) – прибор с опциональным измерительным столом; 4) – прибор в настольном исполнении (высота колонны 500 мм); 5) – прибор в настольном исполнении (высота колонны 800 мм); 6) – прибор с опциональным измерительным столом (высота колонны 500 мм); 7) – прибор с опциональным измерительным столом (высота колонны 800 мм)
Таблица 4 – Метрологические характеристики приборов Waveline W900
Наименование характеристикиЗначение
Модификация датчикаDigiscanTKU400SurfscanNanoscan
Измеряемые параметрыКонтурШероховатостьКонтур и шероховатостьКонтур и шероховатость
Диапазон линейных измерений по оси Z, ммот 0 до 601) от 0 до 902)±4001) ±8002)от 0 до 81) от 0 до 162)от 0 до 241) от 0 до 482)
Разрешение по оси Z, нм101) 152)11) 22)31) 62)0,31) 0,62)
Диапазон линейных измерений по оси X4), ммот 0,1 до 120 от 0,1 до 200
Разрешение по оси X, мкм0,01
Предел допускаемого отклонения от прямолинейности перемещения по оси X6), мкм0,2 (на 120 мм) 0,4 (на 200 мм)
Измерительное усилие, мНот 5 до 500,75от 0,75 до 30от 0,75 до 30
При измерении контура поверхности
Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси Z3) 6), мкм±(0,8 + Z/50) где Z – измеряемая длина, мм±(0,7 + Z/50) где Z – измеряемая длина, мм
Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси X3) 6), мкм±(1,0 + X/100) где X – измеряемая длина, мм±(1,0 + X/100) где X – измеряемая длина, мм
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений радиусов3) 5) 6), мкм±1,5±1,5±1,2
При измерении шероховатости поверхности3)
Диапазон измерений шероховатости по параметру Ra, мкмот 0,01 до 260
Пределы допускаемой относительной погрешности измерений шероховатости по параметрам Ra6), %±3
Радиус закругления щупа, мкм2
1) – при использованнии стандартной консоли; 2) – при использовании консоли двойной длины; 3) – при использовании стандартного щупа; 4) – в зависимости от блока привода; 5) – для радиусов от 12 до 15 мм; 6) – при температуре окружающего воздуха от плюс 19 до плюс 21 °C и относительной влажности воздуха (без конденсата) не более 50 %
Таблица 5 – Технические характеристики приборов Waveline W900
Наименование характеристикиЗначение
Модификация датчикаDigiscanTKU400SurfscanNanoscan
Диапазон позиционирования по оси Z, ммот 0 до 5004) от 0 до 8005)
Максимальная скорость позиционирования по оси X, мм/с200
Точность позиционирования по оси X, мкм10
Максимальная скорость позиционирования по оси Z, мм/с80
Точность позиционирования по оси Z, мкм10
Параметры шероховатостиRt, Ra, Rz, Rp, Rv, Rq, RSm, Rc, Rsk, Rku, RΔq, Rmr, C(Rmr), Rmr(c), Rdc, Pt, Pa, Pz, Pp, Pv, Pq, PSm, Pc, Psk, Pku, PΔq, Pmr, C(Pmr), Pmr(c), Pdc, Wt, Wa, Wz, Wp, Wv, Wq, WSm, Wc, Wsk, Wku, WΔq, Wmr, (Wmr),Wmr(c), Wdc, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Vo, Rpk*, Rvk*, A1, A2, R, Rx, AR, Nr, W, Wx, AW, Wte, Nw, Rz-JIS, Ra, RPc, Wsa, Wca, Rmax, RzISO, D, Δa, Δq, L0, R3z, Rp3z, R3zm, WDSm, WDt, WDc, DG, Dt, DP, DF, DFu, DLu, Dγ
Параметры электрического питания (от внешней сети): напряжение переменного тока, В частота переменного тока, Гцот 100 до 120 / от 220 до 240 50/60
Потребляемая мощность, В∙А, не более1500
Габаритные размеры, мм, не более: длина ширина высота7001), 10002), 14603) 5201) 2), 8103) 11244), 14245), 17706), 20707)
Масса, кг, не более1601), 2302), 4803)
Условия эксплуатации: диапазон рабочих температур, °С относительная влажность воздуха (без конденсата), %, не болееот +15 до +30 80от +10 до +40 80от +18 до +25 80от +18 до +25 80
1) – прибор в настольном исполнении с гранитной плитой (700x520x100 мм); 2) – прибор в настольном исполнении с гранитной плитой (1000x520x110 мм); 3) – прибор с опциональным измерительным столом; 4) – прибор в настольном исполнении (высота колонны 500 мм); 5) – прибор в настольном исполнении (высота колонны 800 мм); 6) – прибор с опциональным измерительным столом (высота колонны 500 мм); 7) – прибор с опциональным измерительным столом (высота колонны 800 мм)
КомплектностьТаблица 4 – Комплектность средства измерений
НаименованиеОбозначениеКоличество
Прибор для измерений параметров контура и шероховатости поверхности в сбореWaveline W800 или Waveline W9001 шт.
Датчик для измерений контура и (или) шероховатостипо заказу
Стандартный щуп для измерений контура1)1 шт.
Стандартный щуп для измерений шероховатости2)1 шт.
Набор для калибровки датчика контура1)1 шт.
Руководство по эксплуатации1 экз.
Методика поверкиМП 203-48-20191 экз.
1) – для датчиков модификаций Digiscan, Surfscan, Nanoscan; 2) – для датчиков модификаций TKU400, Surfscan, Nanoscan
Поверкаосуществляется по документу МП 203-48-2019 «Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИМС» 9 сентября 2019 г. Основные средства поверки: меры длины концевые плоскопараллельные 4-го разряда по Приказу Росстандарта от 29.12.2019 г. № 2840; мера для поверки приборов для измерений контура поверхности KN100(Рег. № 52266-12); мера наружного диаметра 4-го разряда по Приказу Росстандарта от 29.12.2019 г. № 2840 – сфера диаметром от 24 мм до 30 мм; пластина плоская стеклянная 4-го разряда по ГОСТ 8.661-2018; мера шероховатости 1-го разряда по ГОСТ 8.296-2015. Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых СИ с требуемой точностью. Знак поверки наносится на свидетельство о поверке в виде оттиска клейма или на корпус прибора в виде голографической наклейки.
Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к приборам для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900 Техническая документация фирмы-изготовителя
ЗаявительJENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH, Германия Адрес: Alte Tuttlinger Strasse 20, 78056, Villingen-Schwenningen Тел.: +49 (772) 06020 Факс: +49 (772) 0602123 Web-сайт: www.jenoptik.com/metrology E-mail: metrology@jenoptik.com
Испытательный центрФедеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы» (ФГУП «ВНИИМС») Адрес: 119361, г. Москва, ул. Озерная, д. 46 Тел.: +7 (495) 437-55-77 Факс: +7 (495) 437-56-66 Web-сайт: www.vniims.ru E-mail: office@vniims.ru Аттестат аккредитации ФГУП «ВНИИМС» по проведению испытаний средств измерений в целях утверждения типа № 30004-13 от 29.03.2018 г.